測定方向が下側から照射される蛍光Ｘ線膜厚測定器です。電圧とフィルターの組み合わせにより、薄い皮膜から厚い皮膜まで測定が可能です。
【特徴】
１．測定方向が下側から照射される為、
サンプルのポジショニングが容易。
２．電圧とフィルターとの組み合わせに
より、薄い皮膜から厚い皮膜の測定
可能。
３．測定スポット面積100µmレベルま
で測定が可能。
下から照射型のコンパクト設計の蛍光Ｘ線膜厚測定器です。宝飾品や貴金属などの品質管理や買い取り査定などの測定にも最適です。
【特徴】
１．測定方向が下側から照射される為、
サンプルのポジショニングが容易。
２．シリコンドリフト検出器搭載により、
高分解能・高感度な測定が可能。
（XAN250、XAN252）
３．コンパクト設計。
ハンドヘルド型の蛍光X線式膜厚測定および素材分析装置です。測定対象物を移動したりすることなく現場で素早く非破壊で検査することができます。
【特徴】
１．携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定及び
素材分析測定装置。
２．シリコンドリフト検出器搭載により、
高精度かつ高い検出感度。
３．測定対象物を移動したり切断すること
なく、現場で素早く非破壊で検査。
比例計数管（PC）を搭載した蛍光Ｘ線膜厚測定器です。使いやすい卓上型で、様々なXYステージのラインナップを取り揃えております。
【特徴】
１．ハウジングに細い開口部（Cスロッ
ト）があり、大きな板状サンプルも
測定可能。
２．プログラマブルXYステージ付きの
モデルで、自動連続測定が可能。
（XDL 240）
比例計数管（PC）タイプの蛍光Ｘ線膜厚測定器です。4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性の高い機種となり、電子部品や半導体産業での機能性多層膜測定などにも適しています。
【特徴】
１．Ｘ線管球にマイクロフォーカスチュー
ブを搭載し、より小さな測定スポット
で分析。
２．ハウジングに細い開口部（Ｃスロッ
ト）があり、大きな板状サンプルも測
定可能。
３．4種類のコリメーターと3種類のプラ
イマリフィルターを搭載し、汎用性
の高い機種。
Ｘ線検出器に、半導体検出器（PIN）搭載の「XDAL 237」、シリコン・ドリフト検出器（SDD)搭載の「XDAL 237 SDD」をラインナップ。4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性の高い機種です。
【特徴】
１．Ｘ線検出器に半導体検出器（PIN）
搭載のXDAL 237、シリコン・ドリフ
ト検出器（SDD)搭載のXDAL
237 SDDをご用意。
２．プログラム機能付きの電動式XYステ
ージを搭載。
３．ハウジングに細い開口部（Ｃスロッ
ト）があり、大きな板状のサンプルも
測定可能。
４．4種類のコリメーターと3種類のプラ
イマリフィルターを搭載し、汎用性
の高い機種。
Ｘ線検出機にシリコンドリフト検出器を採用した高性能な蛍光Ｘ線膜厚測定器です。電動ステージ付きで非常に薄い皮膜の測定や微量分析ができます。
【特徴】
１．シリコン・ドリフト・ディテクター
（SDD）をＸ線検出器に採用。
２．プログラミング可能なXYステージを
装備。
３．大型でアクセス性のよい測定チャンバ
（クローズドチャンバ―タイプ）。